泰勒Surtronic Duo II表面粗糙度測量儀

泰勒Surtronic Duo II表面粗糙度測量被廣泛用于生產(chǎn)現(xiàn)場、工業(yè)廠房和檢測室。Surtronic Duo II 可用于評估地面的**性，也可幫助地面材料制造商控制生產(chǎn)過程中的粗糙度。它可靠、耐用、快速、易于使用，并且只需很少的培訓(xùn)。Surtronic Duo II 數(shù)字式表面粗糙度測量儀專門用于測量表面粗糙度，可與 HSE 滑倒評估軟件結(jié)合使用，以檢查地面的粗糙度。Surtronic 表面粗糙度測量儀的分辨率為 0.01 μm（0.4 μin），采用的粗糙度標準為 ISO 4287。

Surtronic Duo II 是一種**便攜式表面粗糙度測量儀，只需按一鍵即可測量多個粗糙度參數(shù)。這些參數(shù)（如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt）會顯示在直觀的2.4英寸LCD彩色屏幕上。使用充電電池，便于在所有環(huán)境和表面進行快速、輕松和**的現(xiàn)場測量。

泰勒Surtronic Duo II表面粗糙度測量的特點:
測量 - 觸覺測量按鈕，適用難測到的位置
分體式 - 通過滑軌和鎖定裝置，分為顯示/控制裝置和驅(qū)動裝置兩部分
金剛石測針和壓電傳感器 - 帶金剛石**的堅固耐磨的壓電傳感器測針，確保測量結(jié)果的可靠性。
藍牙技術(shù) - 在驅(qū)動裝置和顯示/控制裝置之間進行快速可靠的通信