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德國BYK公司BYK4567微型光澤儀 45°
特殊應(yīng)用的光澤測量
特殊的材料要求特殊的測量角度：
陶瓷材料，塑料薄膜和硬質(zhì)塑料，紙張和硬紙板不僅可用20°,60°, 85°常規(guī)角度進行測量，也可按照行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)選擇45° 或75°。
德國BYK公司BYK4567微型光澤儀 45°
對于中低光澤產(chǎn)品，塑料薄膜和硬質(zhì)塑料，不論透明還是不透明材質(zhì)，通常都用45°角來測量。對于透光的薄膜，請用型號為5015的黑色耐擦洗實驗板作為啞光黑色背景（174頁）墊于樣品背后。如果沒有合適的背景板，測量會發(fā)生錯誤。
標(biāo)準(zhǔn)的測量方法要求每個樣品至少測量三個點，以獲取光澤均質(zhì)性指征。微型光澤儀統(tǒng)計測量模式，可顯示平均值和差值范圍或者顯示測量樣品的均質(zhì)性的標(biāo)準(zhǔn)偏差值。
陶瓷、搪瓷和其他材料使用45°光澤儀，通過測量失光率可以對比這些材料的耐酸性，耐堿性或者其他環(huán)境因素的影響。
德國BYK公司BYK4567微型光澤儀：特別應(yīng)用在陶瓷、塑料和薄膜的光澤測量
為了評估光澤的變化有必要多次測量整個樣品表面并取平均值，確保得到有代表性的結(jié)果。
特殊應(yīng)用的光澤測量
微型光澤儀 75°
特別是有涂層的紙張，還有很多無涂層的紙張都需要進行光澤控制。75°光澤儀適用于大多數(shù)墨膜的紙張和硬板紙。顏色的差異對測澤幾乎沒有影響。例如，一個白色產(chǎn)品表面所測得的光澤只會比相同的黑色表面僅高出不到1個光澤單位。
光澤非常高的紙張（漆面的，涂漆的，或者上過蠟的）需要在20°角下測量光澤。
TAPPI（美國紙漿與造紙工業(yè)技術(shù)協(xié)會）標(biāo)準(zhǔn)中定義批量質(zhì)檢要求檢查至少十個樣品有無褶皺或其他瑕疵。smart-lab 是理想的文件處和數(shù)據(jù)溝通的光澤測量軟件。項目管理功能記錄材料隨時間推移的質(zhì)量變化過程，并通過轉(zhuǎn)化為PDF或者Excel格式發(fā)給相關(guān)人員。
另一個使用75°特殊角度進行光澤測量的典型材料是聚乙烯板材，其大部分由堅硬的PVC制成，用來做建筑物的復(fù)合外墻。
為了評估大面積樣品的均質(zhì)性，可使用“連續(xù)測量模式”，預(yù)設(shè)測量間隔并將微型光澤儀在樣品上滑行測量，儀器上將顯示連續(xù)測量的光澤度值。
微型光澤儀75°：特別應(yīng)用在紙張、紙板和表面有結(jié)構(gòu)的塑料，如聚乙烯板材。
德國BYK公司新型光澤儀標(biāo)準(zhǔn)：ISO 2813, 7668，ASTM D 523, D 2457，DIN 67530，JIS Z 8741
德國BYK公司BYK4567微型光澤儀訂購信息技術(shù)指標(biāo)
|
型號 |
名稱 |
角度 |
測量范圍 |
應(yīng)用 |
測量面積 |
|
4560 |
新微型光澤儀 20° |
20° |
0-2000GU |
高光澤 |
10 x 10mm |
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4561 |
新微型光澤儀 60° |
60° |
0-2000GU |
中光澤 |
9 x 15mm |
|
4562 |
新微型光澤儀 85° |
85° |
0-2000GU |
低光澤 |
5 x 38mm |
|
4563 |
新微型三角度光澤儀 |
20°, 60°, 85° |
0-2000GU |
各種光澤 |
參見各角度 |
|
4564 |
新微型三角度光澤儀 μ |
20°, 60°, 85° |
0-2000GU |
各種光澤 |
參見各角度 |
|
4565 |
新微型光澤儀 60° S |
60° |
0-2000GU |
中光澤 |
9 x 15mm |
|
4566 |
新微型三角度光澤儀 S |
20°, 60°, 85° |
0-2000GU |
各種光澤 |
參見各角度 |
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4567 |
新微型光澤儀 45° |
45° |
0-180GU |
陶瓷、塑料、薄膜 |
9 x 13mm |
|
4568 |
新微型光澤儀 75° |
75° |
0-140GU |
紙張、聚乙烯 |
7 x 24mm |
|
4569 |
微型光澤儀 60° XS |
60° |
0-2000GU |
中光澤 |
2 x 4mm |
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4570 |
微型光澤儀 60° XS-S |
60° |
0-2000GU |
中光澤 |
2 x 4mm |
德國BYK新型光澤儀技術(shù)參數(shù)
| 測量范圍1 | 0 - 100 GU | 100 - 2000 GU |
| 重復(fù)性2 | ± 0.2 GU | ± 0.2 % |
| 重現(xiàn)性2 | ± 0.5 GU | ± 0.5 % |
| 光譜敏感度 | 用于CIE-C光源的觀察器，符合CIE1931標(biāo)準(zhǔn) | |
| 測量時間 | 0.5 秒 / 角度 | |
| 厚度 | ||
| 底材 | Fe磁性, NFe: 非磁性 | |
| 測量范圍 | 0 - 500 μm (0 - 20 mils) | |
| 精度 | ± (1.5 μm +2% 測量值) | |
| 存儲 | 999個讀數(shù)帶日期和時間 | |
| 接口 | USB | |
| 電源 | 1節(jié)1.5V AA堿性電池 測量4000個讀數(shù)或者通過USB端口 | |
| 尺寸 | 155 x 73 x 48 mm (6.1 x 2.9 x 1.9 in) | |
| 重量 | 0.4 kg (0.9 lbs) | |
| 操作溫度 | 15 - 40 °C (60 - 104 °F) | |
| 相對濕度 | 高達85%，無凝露 | |
| 語言 | 中文、英文、法文、德語、意大利語、日語、西班牙語 | |
德國BYK新型光澤儀基本配置：
主機
帶校準(zhǔn)板的底座
可追溯的證書
USB線纜
操作手冊
電池
攜帶箱
可供下載的軟件: smart-lab Gloss 或 smart-process Gloss 含2個許可證
注意：軟件下載后所有的軟件包可以免費試用30天。之后，用戶
需決定并注冊其中一個軟件包。
延長質(zhì)保服務(wù)：請參見技術(shù)服務(wù)章節(jié)
系統(tǒng)要求：
操作系統(tǒng)： Windows® SP1 或 8.1
8.1Microsoft® . NET Framework
硬件：Core 2 Duo, 2.2 GHz, i7 或相當(dāng)
內(nèi)存：4 GB RAM, 8 GB 建議
硬盤：*少300MB
顯示器：1280 x 1024 或更高
接口：USB端口